Инженеры нашли новый метод контроля качество нанокомпозитов

nanocomposite

Слоистые нанокомпозиты, содержащие крошечные структуры, смешанные в полимерную матрицу получают коммерческое использование, но их сложный характер может скрыть дефекты, влияющие на производительность.

Ученые Университета Пердью разработали систему, способную обнаруживать такие дефекты, используя «зонд Кельвина» метод сканирования с помощью атомно-силового микроскопа. Способность увидеть ниже поверхности нанокомпозитов представляет собой потенциальную новый инструмент контроля качества для промышленности. Один из исследователей профессор Arvind Raman говорит: «Это очень важно для любыхкомпонентов, имеющий полимеры, которые содержат малые структуры, в том числе солнечных батарей, органических проводящих устройств для гибкой электроники и еще множеству материалов».

Нанокомпозиты – слоистые материалы, содержащие различные структуры: углеродные нанотрубки, ультратонких листы графена, наночастиц золота и нановолокон, смешанных в полимерной матрице. Raman: «Нам нужен инструмент, который позволяет инженерам увидеть, как эти нано-объекты распределены в полимерной матрице, чтобы убедиться в качестве изделия». Исследователи выяснили, что используя зонд Кельвина, они могут «заглянуть» под поверхность и обнаружить трехмерные сетки наноструктур, встроенных в полимерную матрицу.

Метод позволяет исследователям определить ориентацию, связи и распределение по размерам, или изменение размера частиц, что очень важно для контроля качества. Ученые говорят, что метод способен обнаруживать структуры на глубине около 400 нанометров.

Полимеры применяются не только в нанокомпозитах, но и более прозаичных и нужных изделиях. Для тех, кто не занимается научной работой, а предпочитает делать из полимеров, может на http://pro-ptr.ru/ купить гранулу РРН. Уникальная структура блок-сополимера пропилена и этилена и высокие требования к изготовлению изделий из него предполагают отменное качество изделий.

Leave a Reply

Ваш e-mail не будет опубликован. Обязательные поля помечены *